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Neue Flying Probe-Technik jetzt bei ETO DYNAMIC

Noch schneller und flexibler dank doppelseitiger Testtechnologie!

Maximale Geschwindigkeit durch doppelseitigen Test

Hochpräzise Messungen und hohe Testabdeckung

 

Programmierung mit Flying Bottom Probe

Wirtschaftlich – vom Prototyp bis zur Serie

Testservice – Qualitätssicherung mit neuester Flying Probe Technologie

Seit der Erstinstallation der TAKAYA Flying Probe-Technik in unserer Elektronikfertigung im Jahr 2007 wurde die Entwicklung dieser Systeme kontinuierlich an die fortschreitende Komplexität und Packungsdichte elektronischer Baugruppen angepasst. Mit dem System APT1600FD der neuen Flying Probe-Generation haben wir unsere Möglichkeiten im Testbereich deutlich erweitert und bieten Ihnen eine signifikant höhere Prüfgeschwindigkeit und Testabdeckung an.


Höhere Prüfgeschwindigkeit

  • Dank gleichzeitiger, doppelseitiger Tests mit 6+4 „fliegenden“ Nadeln auf der Ober- und Unterseite der Leiterplatte erzielen wir eine deutliche Verkürzung der Test- und Rüstzeiten.
  • Mit einer Signaturanalyse kann eine weitere Beschleunigung der Tests erzielt werden.
  • Darüber hinaus verkürzt ein automatisiertes Board-Handling im Magazin-zu-Magazin-Betrieb die Durchlaufzeiten zusätzlich.

Steigerung der Genauigkeit und Testabdeckung

  • Hochpräzise Mechanik mit 6 Köpfen und 10 Flying Probes erlaubt eine schonende Kontaktierung kleinster Kontaktpunkte mit 60 μm.
  • Zugriffe auf hochkomplexe Strukturen – auch dort, wo aus Platzgründen oder aufgrund spezieller Anforderungen an die Schaltungstechnik keine Testpunkte auf dem Layout vorgesehen sind.
  • Umfangreiche DAC/ADC -Messeinrichtungen, 4-Quadranten-Spannungsversorgungen, Signalgeneratoren, Laser und HD-Farbkameras erlauben hochgenaue und flexible Testverfahren für aktive und passive Komponenten, optische Tests, Strom-/Spannungsmessungen und Funktionstests.

On-Board-Programmierung direkt über die Nadeln des Flying Probe-Systems

  • Durch das doppelseitige Konzept kann mit einem fliegendem Nadelpaket auf der Unterseite die Programmierschnittstelle mehrerer Prüflinge im Nutzen sequentiell kontaktiert und programmiert werden.
  • Einsparung zusätzlicher Handling-Schritte – die Programmierung erfolgt nach erfolgreichem MDA- und Spannungstest als nachgeschaltetem Testschritt in einer Testinstanz.
  • Software-Änderungen und Programmierung dynamischer Parameter können in der Entstehungsphase einer Baugruppe schnell und flexibel in den Test eingebunden werden.

Reduzierung der Testkosten

  • Schon bei kleinen Produktionslosen, hoher Variantenvielfalt und komplexen Strukturen auf der Leiterplatte enorme Zeitersparnis dank schnell durchführbarer Tests mit hoher Testtiefe.
  • Durch die automatisierte Testprogrammerstellung aus den CAD-Daten ist eine wirtschaftliche Prüfung ab der ersten Baugruppe möglich. Dazu setzen wir unsere Softwarelösung für effektive Datenaufbereitung und einfache Testgenerierung ein.  > MERLIN PRO
  • Die Auswahl des Testumfanges kann passend zu Ihren Baugruppen getroffen werden (MDA-Test; Strom-/Spannungstest, Funktionstest, Boundary Scan, On-Board-Programmierung).

Flying Probe Testservice

Wir übernehmen für Sie den Test Ihrer bestückten Leiterplatten – unser Dienstleitungsangebot:

  • Testprogramm-Erstellung
  • Flying Probe-Test vom Prototyp bis hin zur Serie
  • Funktionstests und On-Board-Programmierung
  • Erstellung von Testabdeckungsberichten
  • Bereitstellung der Testergebnisse in der ETO-Cloud

Höhere Geschwindigkeit Steigerung der Genauigkeit und Testabdeckung On-Board-Programmierung über die Nadeln Reduzierung der Testkosten Flying Probe-Testservice

Kontakt

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Gebhardstr. 7
88046 Friedrichshafen
Tel. +49 7541 99595-0
info@farmunited.com

Vertriebshotline

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